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ZEISS Mikroskopie Online Demo-Tag - Vorträge
Aufzeichnung: Vernetzte Mikroskopie & Rasterelektronenmikroskop - Entscheidungen beschleunigen
Vernetzte Mikroskopie & Rasterelektronenmikroskop - Entscheidungen beschleunigen
ZEISS Industrial Microscopy Series | Roger Landolt, Tim Schubert, Sebastian Rhode, Martin Kuttge & Konstantin Schade
Intelligente Datenverarbeitung für eine vernetzte Mikroskopie: Workflow inklusive Rasterelektronenmikroskop
Durch Industrielle Mikroskopie unterstützt ZEISS seine Kunden dabei, Mikroskopiedaten in Mehrbenutzerumgebungen, abteilungsübergreifend und über verschiedene Mikroskopiesysteme hinweg konsistent zu erzeugen, zu verwalten und zu nutzen. Ein gesamter Workflow inklusive Rasterelektronenmikroskop wird gezeigt.