Vernetzte Mikroskopie

Entscheidungen beschleunigen.

ZEISS Industrial Microscopy Series

Mikroskopie-Lösungen für die Industrie

Entwicklung, Produktion und Qualitätssicherung erfordern leistungsstarke Bildgebungs- und Analysewerkzeuge, um wertvolle Daten über Produkte und Prozesse zu sammeln. Mit über 170 Jahren Erfahrung in der Mikroskopie und langjähriger Zusammenarbeit mit Industriekunden bietet ZEISS innovative, marktführende Lösungen.

Empfehlungen
Broschüre
Kontakt

Vom Mikrometer bis zum Nanometer

ZEISS bietet ein einzigartig umfassendes Portfolio aller für industrielle Anwendungen relevanten Mikroskoptypen. Zusammen mit den korrelierbaren Daten über die verschiedenen Mikroskoptechnologien und der workfloworientierten ZEN core Software ergibt sich für den Kunden ein vollständiges und schlüssiges Lösungssystem, das nur ZEISS bieten kann.

Von Bildanalyse zu Produktivität

Datenverarbeitung ohne Schranken

Durch Industrielle Mikroskopie unterstützt ZEISS seine Kunden dabei, Mikroskopiedaten in Mehrbenutzerumgebungen, abteilungsübergreifend  und über verschiedene Mikroskopiesysteme hinweg konsistent zu erzeugen, zu verwalten und zu nutzen.

Dies ermöglicht einen benutzerunabhängigen Betrieb, Trendanalysen und tiefere Einblicke durch die Kombination von Ergebnissen über Größendimensionen oder Modalitäten und die gemeinsame Nutzung von Daten. Das Ergebnis: Mehr Produktivität und höhere Sicherheit bei industriellen Mikroskopieanwendungen.

  • Gut-/schlecht-Bewertung bei visueller Inspektion
  • Mängel und Fehler sowie ihre Ursachen identifizieren
  • Rauheit und Topographie charakterisieren
  • Partikelkontamination nachverfolgen
  • Abweichungen bei kritischen geometrischen Abmessungen erkennen

Intelligente Datenverarbeitung

für eine vernetzte Mikroskopie

Die einheitliche Benutzeroberfläche von ZEN core ermöglicht es Anwendern, Mikroskope auf die stets gleiche Weise zu bedienen, von Stereomikroskopen bis hin zu vollautomatisierten High-End-Anwendungen. Die leistungsstarke Software-Suite ermöglicht die Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie in multimodalen Arbeitsabläufen und bietet Konnektivität zwischen Systemen, Abteilungen und Standorten. ZEN core beherrscht mehr als nur die Bildgebung in der Mikroskopie. Es ist die umfassendste Suite von Bildgebungs-, Segmentierungs-, Analyse- und Datenverbindungswerkzeugen für die multimodale Mikroskopie in vernetzten Qualitätslaboren.

Lernen Sie unsere Mikroskopie Software Suite kennen!
Workflow-oriented

ZEN core enables a workflow-oriented quality assurance for microscopy applications through dedicated
software modules for application fields such as technical cleanliness analysis and job templates for automated image quantification.

ZEISS ZEN core
Mobile Access

ZEN Data Explorer allows access to all data on the central ZEN Data Storage from any place via mobile device or browser.

ZEISS ZEN core
Reliable Data Storage

The central database for secure data handling and documentation offers a scalable central storage solution for results, methods, and templates.

ZEISS ZEN core
Correlation and Connectivity

Through its correlative data output, ZEN core allows quick and easy re-localization of area of interests across different imaging methods and microscope technologies.

Learn More
Third-Party Import

Users can integrate and process third-party images, even from third-party microscopes.

Wie andere Kunden ZEISS Industrial Microscopy Solutions erlebt haben

Ein Kunde, ein Bauteil

verschiedene Mikroskopie-Anwendungen

ZEISS bietet das breiteste Spektrum an Lösungen für industrielle Anwendungen in verschiedenen Industriesegmenten: Elektronik, Automobil, Luft- und Raumfahrt, medizinische Geräte und additive Fertigung. Wählen Sie uns als Partner, um Ihre spezifischen technologischen Probleme zu lösen, Ihre Prozesse voranzubringen und schneller Ergebnisse zu erhalten, indem Sie unser umfassendes Mikroskopieportfolio und zielorientierten Softwarelösungen nutzen. Erzielen Sie qualitativ hochwertige Bildgebung mit unseren einzigartigen Mikroskopielösungen unter Verwendung von Licht-, Röntgen- und Elektronenbildgebungsverfahren.

Fehleranalyse und Metallography

Die Defektursachen bestimmen

Herausforderung

Die Metallographie offenbart die innere Struktur von Werkstoffen. Für den Fall, dass etwas nicht wie geplant verläuft, ist eine Fehleranalyse erforderlich, um das Versagen zu inspizieren, zu analysieren und zu dokumentieren, um die zugrundeliegende Ursache aufzudecken.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Kürzere Zeit bis zum Ergebnis durch workfloworientierte Software und Korrelation der Ergebnisse mit dem ZEN core.

Visuelle Inspektion

Schnell und reproduzierbar

Herausforderung

Die optische Inspektion bietet Herstellern die Möglichkeit, Fehler zu erkennen und zu stoppen, sobald sie auftreten. Zu diesem Zweck ist die optische Inspektion auf schnelle und reproduzierbare Bilder und eine zuverlässige Dokumentation in der Fertigung und in den Qualitätsabteilungen angewiesen.

Ihr Vorteil mit ZEISS

ZEISS bietet für jede Prüfanwendung die richtige Mikroskopielösung: Lichtmikroskope, Rasterelektronenmikroskope und Röntgenmikroskope.

Mehr erfahren

Optisches Messen Präzise

Präzise Messtechnik auf Mikroskopebene

Herausforderung

Mit fortschreitender Produktionstechnologie sind Fertigungswerkzeuge in der Lage, Merkmale mit engen Toleranzen auf Werkstücken zu erzeugen. Um die Qualität dieser Produkte und Komponenten zu gewährleisten, müssen die Hersteller in Größenordnungen messen, die kleiner sind, als es ein menschliches Auge erfassen kann.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Die konkurrenzlose Erfahrung von ZEISS in der Mikroskopie gepaart mit dem umfangreichen Know-how in der Messtechnik ermöglicht akkurate Ergebnisse mit einem breiten Spektrum an Mikroskoptypen

Oberflächencharakterisierung

3D-Topographie und Rauheit

Herausforderung

Fertige und funktionale Oberflächen mit komplexer Geometrie müssen mit höchster Präzision auf Rauheit und dreidimensionale Topographie untersucht werden

Ihr Vorteil mit ZEISS

Je nach Anwendungsanforderung bietet ZEISS neben den führenden Mikroskopielösungen wie dem ZEISS LSM 900 MAT und ZEISS Smartproof 5 auch taktile Optionen an.

Mehr erfahren

Partikelanalyse

Qualitätssicherung für Technische Sauberkeit

Herausforderung

Die Sauberkeit von Komponenten und Teilen steht im Mittelpunkt der meisten industriellen Fertigungsprozesse, da diese Komponenten frei von Verunreinigungen sein müssen, um qualitativ hochwertige Endprodukte zu gewährleisten. Eine unentdeckte Partikelkontamination kann die Funktionsfähigkeit, Lebensdauer und Zuverlässigkeit der Endprodukte beeinträchtigen.

Ihr Vorteil mit ZEISS

Mit ZEISS können Sie fundierte Entscheidungen über die Ursache der Kontamination treffen.

Mehr erfahren

Benötigen Sie mehr Informationen zu ZEISS Microscopy Solutions?

Füllen Sie das untenstehende Formular aus um unsere Broschüre zu erhalten.

Mikroskopie-Lösungen von ZEISS:

Unsere Experten im Interview

Zum Artikel

ZEISS Röntgentomographie

Erfahren Sie hier mehr über unsere Computertomographie-Lösungen

Mehr erfahren