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ZEISS ABIS III
Automatisierte Oberflächeninspektion
für Smart Factories
Prozessüberwachung in Taktzeit
Der neu entwickelte Sensor ZEISS ABIS III vereint höchste Inspektionsgeschwindigkeit mit zuverlässiger Detektion aller relevanten Oberflächendefekte wie Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse und nun auch Kratzer und Druckstellen. Das System prüft bewegte und stehende Bauteile reproduzierbar und mit höchster Präzision direkt in der Produktionslinie – in Taktzeit. Neben der Inline-Anwendung ist auch der Atline-Einsatz in der Produktionsumgebung möglich.
Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erkennung selbst kleinster Defekte. Ein digitaler Prüfbericht wird bereits nach wenigen Sekunden bereitgestellt. So stehen Funktionen wie ein Q-Stop und digitale Qualitätsinformationen wie Defektvisualisierungen für eine gezielte Nacharbeit stets zur Verfügung. Diese bilden die Basis für geschlossene Regelkreise und die Voraussetzung zur Umsetzung der proaktiven Prozesssteuerung (Smart Process Control). In Deutschland entworfen und entwickelt, um höchsten Qualitätsanforderungen gerecht zu werden, ist ZEISS ABIS III die ideale Lösung für moderne Presswerke und den zukunftsorientierten Karosseriebau.
Durchgängige Analyse der Oberflächenqualität über die komplette Prozesskette
Oberflächeninspektion
Die konventionelle Oberflächenprüfung (z. B. das Bearbeiten der Oberfläche mit Abziehsteinen) ist sehr zeitaufwendig und vom jeweiligen Anwender abhängig. Diese subjektive Inspektion kann zu unterschiedlichen Meinungen zwischen Kunde und Lieferant und damit zu Beanstandungen, Reklamationen oder kostenintensiven Sortier- bzw. Nacharbeiten führen. Durch den Einsatz des Sensors ZEISS ABIS III und die schnelle Fehlerdetektionsrate von bis zu 20 Hz entfallen manuelle und subjektive Qualitätssicherungsprozesse. Das ressourcensparende System liefert kontinuierlich und automatisiert die erforderliche Datenbasis für zielgerichtete Nacharbeiten, schnelle Ursachenanalysen und effiziente Prozessoptimierungen.
Multi-Color-Light-Technologie zur Detektion kleinster Fehler
Das kompromisslose Oberflächeninspektionssystem ZEISS ABIS III kombiniert Highspeed mit zuverlässiger Fehlererkennung nach dem 100-%-Prinzip: 100 % Prüfung aller produzierten Bauteile, der gesamten Oberfläche sowie aller relevanten Fehlerarten. Ein technisches Highlight dabei ist das neu entwickelte MCL-Modul. Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erfassung von kleinsten Fehlerarten.
Fehlervisualisierung und digitale Prüfberichte in ZEISS ABIS V20
In Kombination mit der Software ZEISS ABIS V20 werden Oberflächenmerkmale sekundenschnell erkannt und nach den Vorgaben individueller Konzernstandards bewertet. Die Software visualisiert Fehlerarten wie Beulen, Dellen, Welligkeiten, Einschnürungen oder Nachlaufkanten in Echtzeit und speichert die Prüfergebnisse digital in einer Datenbank. Der Qualitätsnachweis gegenüber den Kunden ist so jederzeit verfügbar und abrufbar. Durch die Auswertung von erkannten Fehlerschwerpunkten ist die schnelle Ursachenanalyse und darauf basierend die Definition zielführender Abstellmaßnahmen problemlos möglich.
Offline-Erstellung von Prüfprogrammen in der virtuellen Roboterzelle
Mit dem ZEISS ABIS Planner werden in nur vier Schritten neue Inspektionsprogramme erstellt und hinzugefügt, ohne laufende Produktionsprozesse zu unterbrechen. Die Erstellung der virtuellen Roboterzelle ist als maßstabsgetreues 3D-Modell durch Import der CAD-Daten oder durch die Verwendung von Standard-Geometrien möglich.
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